黄仁勋称Blackwell芯片曾存在设计缺陷:靠台积电力挽狂澜! 10月23日讯 英伟达 CEO 黄仁勋于当地时间周三在访问丹麦时表示:该公司最新的 Blackwell 芯片曾存在设计缺陷,“Blackwell 芯片可以正常使用,但良率很低。”他还表示,这一缺陷“100% 是... 法甲 2024-10-23 0 14